TPX 3 Camナノ秒光子タイムスタンプ用高速光学カメラ

オランダASI製TPX3Camは、光子タイムスタンプ用の高速光学カメラです。新しいシリコン画素センサに基づいており、Timepix3 ASIC電子、イオン、単光子などの時間分解イメージングを必要とするさまざまな応用に適している。TPX3Cam卓上型研究装置に容易に集積することができ、シンクロトロンや自由電子レーザー環境に集積することもできる。

使用TPX3Cam、速度度マッピングイメージング装置で電子とイオンを測定する。ナノ秒レベルの時間分解能とデータ収集速度により、特別な方法で測定することができます。TPX3Camことができる400終了1000 nm波長範囲内で高い量子効率で同時に超音波1000個の光子の点滅光をイメージングし、タイムスタンプを施す。これは、VMI（速度マッピングイメージング）装置において効果的にインパクトが記録されるMCP（マイクロチャネルプレート）上のイオン。MCP高速に結合P47応答イオン衝撃を発生する蛍光体スクリーンMCPのシンチレーションがあります。TPX3Cam真空の外に置くと、蛍光体スクリーンからの閃光を検出することができる。にあるTPX3Camで、すべての単一ピクセルが独立して動作し、それに伴って発生する'イベント＃イベント＃'タイムスタンプを行います。 これにより、イメージングセンサを高速デジタル変換器アレイに変更し、並列作用の空間と時間分解能を持つため、複数のイオン種を同時に記録することができ、測定と共分散分析に適合することができる。

TPX 3 Camの利点：

● 光感度を高めるシリコンセンサ

● 波長範囲：400 - 1000 nm

● 各画素同時検出時間（ToA）と強度（ToT）

●時間分解能1.6 ns、有効フレームレート> 500 MHz

●ロスレス、データ駆動読み出し速度が最大80 Mhits / s

●真空外に配置された光学設計、柔軟な使用

イオンと電子イメージングの応用：

TPX3Cam飛行時間質量分析におけるイオンの空間的及び速度マッピングイメージングを含む応用;イオンと電子の適合イメージング、その他の時間分解タイプのイメージングスペクトル。TPX3Camことができる1.6ナノ秒の時間分解能はイオン衝突を検出し、タイムスタンプを行うことで、すべてのフラグメンテーションイオンのイオン運動量画像を同時に記録することができ、検出器が単一フラグメンテーションイオンのゲート選択を必要とすることを回避することができる。この単一検出器は設計が簡単で柔軟であり、高度差分測定が可能である。

ドイツ・ハンブルクでシンクロトロンのFLASH光源用TimepixCam（TPX3Camの前モデル）に記録されたCH2IBrのイオン飛行時間質量スペクトルを使用して、これは強いレーザーパルスで強い電界イオン化を行った後に得られたものであり、飛行時間質量スペクトルの各ピークのカメラ画像も含まれている。

単一光子イメージング（FEL）：

拡張版TPX3Cam単一光子に敏感であってもよい。この構成では、カメラは既製の画像エンハンサーと組み合わせて使用されます。適用広視野時間依存単一光子数を含む(TCSPC)イメージング、リン光寿命イメージング、および時間分解を必要とする任意の単一光子イメージングの使用。

TPX 3 Cam技術指標

Amsterdam Scientific Instruments

ASI is a spin-off company from Nikhef, the Dutch research institute for particle physics. The company brings to the market unprecedented detector technologies developed by the joint efforts of the Nikhef institute, the Medipix collaboration (CERN) and the ASI team. The broad experience of ASI’s team in various applications makes ASI products a unique and reliable out of the box solution for industry and research institutions.

ASI’s technology can be used in multiple applications such as:

●Energy resolved X-ray

●Computed tomography

●Fast product-line X-ray inspection

●Electron microscopy

●Mass spectrometry